Fotónica integrada · Artículo 02

Guías en silicio

Strip, rib y slot: tres geometrías de guía de onda en obleas SOI de 500×220 nm. La misma física del Módulo 04, pero 1000× más pequeña — y con un contraste de índice que cambia las reglas del juego.

En el artículo anterior presentamos la plataforma SOI y la idea de integrar componentes ópticos en un chip. Ahora toca la pieza más básica: la guía de onda. En el Módulo 04 estudiamos guías slab y fibras ópticas — la física es idéntica. La ecuación de onda es la misma, los modos son los mismos, el número V sigue mandando. Lo que cambia es la escala: el núcleo mide 500 × 220 nm en lugar de 8 μm, y el contraste de índice es 300 veces mayor que en una fibra.

La guía strip

La geometría más sencilla en SOI es la guía strip (también llamada wire o channel): un rectángulo de silicio sobre un substrato de SiO₂, con aire o SiO₂ por encima. Es un prisma nanométrico — y es todo lo que necesitas para confinar luz.

Dimensiones estándar: altura 220 nm (fija por la oblea), ancho ~450–500 nm para operación monomodo a 1550 nm en TE, revestimiento de SiO₂ de ~2 μm. ¿Por qué 220 nm? En el Módulo 04 vimos d<λ/(2NA)d < \lambda/(2\,\text{NA}); con NA3.16\text{NA} \approx 3.16, el grosor monomodo a 1550 nm es ~245 nm. Los 220 nm están justo debajo del corte.

Modos TE y TM

En una guía rectangular, la polarización importa mucho más que en una fibra circular. El modo TE fundamental (E horizontal) y el TM fundamental (E vertical) no son degenerados. El TE ve un núcleo «ancho» (500 nm) → neffTE2.4n_{\text{eff}}^{\text{TE}} \approx 2.4, confina ~80% en Si. El TM ve un núcleo «fino» (220 nm) → neffTM1.8n_{\text{eff}}^{\text{TM}} \approx 1.8, confina ~50%. El TM, con más campo fuera, es mejor para sensores; el TE, para interconexiones. La mayoría de PICs trabajan en TE.

Explorar
Ancho guia (nm) 500
Seccion transversal y modo TE de guia strip SOI
Altura: 220 nm (fija)  |  λ = 1550 nm  |  paso 1 (TE): nslab = 2.852  |  paso 2 (TM): neff = 2.497
El metodo del indice efectivo sobreestima el confinamiento en alto contraste: a 500 nm da 2.497 donde un calculo vectorial da 2.43-2.45.

Índice efectivo

El índice efectivo neffn_{\text{eff}} resume toda la complejidad de la guía en un solo número. Físicamente, es el índice de refracción «promedio» que experimenta el modo — una media ponderada entre el índice del núcleo y el del revestimiento, donde el peso de cada uno depende de cuánta energía del modo vive en cada región. Si el modo está casi todo dentro del silicio, neffn_{\text{eff}} se acerca a 3.48; si se desconfina, baja hacia 1.45. Es el índice que experimenta el modo al propagarse: β=neffk0\beta = n_{\text{eff}} k_0. Para una guía de dos dimensiones (rectangular), no hay solución analítica exacta, pero el método del índice efectivo da una buena aproximación.

Método del índice efectivo: separar x e y

La idea es descomponer el problema 2D en dos problemas 1D sucesivos. Para una guía strip de ancho ww y alto hh, con núcleo n1n_1 y revestimiento n2n_2:

El paso que casi todo el mundo se salta: cada slab tiene su polarización, y no es la misma. La ecuación trascendente de un slab simétrico es κtan(κd/2)=Wγ\kappa\tan(\kappa d/2) = W\gamma, con W=1W = 1 si E\mathbf{E} es tangencial a las caras (caso TE) y W=(nnuˊcleo/nclad)2W = (n_{\text{núcleo}}/n_{\text{clad}})^2 si es normal a ellas (caso TM), porque entonces lo que se conserva es εE\varepsilon E_\perp. En una guía strip el modo cuasi-TE tiene E\mathbf{E} horizontal, y eso lo pone en casos distintos en cada paso.

Paso 1 — Dirección vertical (y): las caras son horizontales y E\mathbf{E} es tangencial a ellas → TE, W=1W = 1. Slab de 220 nm con Si/SiO₂ → neff(y)=2.852n_{\text{eff}}^{(y)} = 2.852.

Paso 2 — Dirección horizontal (x): las caras son ahora las paredes verticales, y E\mathbf{E} es normal a ellas → TM, W=(2.852/1.45)2=3.87W = (2.852/1.45)^2 = 3.87. Slab de anchura ww con núcleo neff(y)n_{\text{eff}}^{(y)} y revestimiento n2n_2. El resultado es neffn_{\text{eff}} del modo 2D: 2.497 a 500 nm de ancho y 2.423 a 450 nm.

Resolver TE en los dos pasos —que es lo que sale si uno programa la misma función dos veces— da 2.634 a 500 nm. Son 0.14 de más, un 6%; en un anillo de 10 μm eso mueve la resonancia 50.6 nm, más de cinco FSR enteros. El signo del error también es informativo: W>1W > 1 empuja el campo hacia el revestimiento, así que la asignación correcta confina menos.

Aun bien hecho es una aproximación — ignora el acoplamiento cruzado entre las direcciones — y en alto contraste se queda largo: para la guía de 500 × 220 nm, un cálculo vectorial completo (FEM) da 2.43–2.45 donde el método del índice efectivo da 2.497. En este curso usamos neffTE2.4n_{\text{eff}}^{\text{TE}} \approx 2.4, que es el valor vectorial redondeado, y conviene tener presente que el método de arriba lo sobreestima en algo más de 0.05.

La guía rib

La guía rib se fabrica con grabado parcial: se deja una capa base (slab) de ~90 nm y se graba ~130 nm para formar el saliente. El confinamiento lateral viene de la diferencia de grosor, no de un salto abrupto de índice. Ventajas: menor scattering (paredes menos expuestas), modo más grande (facilita transiciones) y compatibilidad con moduladores (contactos eléctricos laterales en el slab). Desventaja: radio de curvatura mínimo mayor (~20–50 μm vs ~5 μm para strip).

La guía slot

La guía slot es contraintuitiva: el campo más intenso está en la ranura de bajo índice entre dos strips. La continuidad de εE\varepsilon E_\perp en la interfaz amplifica el campo por el cociente de permitividades: Eslot/ESi=(nSi/nslot)25.8E_{\text{slot}}/E_{\text{Si}} = (n_{\text{Si}}/n_{\text{slot}})^2 \approx 5.8.

Si llenas la ranura con un material funcional — un polímero con χ(2)\chi^{(2)} alto, un analito biológico, un gas — la interacción luz-materia se multiplica. Aplicaciones: sensores bioquímicos, moduladores con polímeros no lineales, detección de gases.

Pérdidas de propagación

Las pérdidas en guías SOI son ~1–3 dB/cm — mucho más que en fibra (0.2 dB/km), pero en un PIC las distancias son de milímetros. La fuente principal es el scattering por rugosidad de las paredes laterales (~1–5 nm rms del grabado por plasma). La pérdida escala como:

αscatσ2λ(Δnd)2\alpha_{\text{scat}} \propto \frac{\sigma^2}{\lambda} \left(\frac{\Delta n}{d}\right)^2

Alto contraste de índice: confinamiento compacto pero mayor sensibilidad a la rugosidad.

Tabla comparativa

Las tres geometrías en la plataforma SOI estándar (220 nm, λ = 1550 nm):

Parámetro Strip Rib Slot
Dimensiones típicas 500 × 220 nm 500 × 220 nm, slab 90 nm 2 × 220 nm, ranura 100 nm
neffn_{\text{eff}} (TE) ~2.4 ~2.6 ~1.7
Pérdidas (dB/cm) 1–3 0.3–1 5–15
Radio de curvatura mín. ~5 μm ~20–50 μm ~20 μm
Uso principal Interconexiones, anillos Moduladores, guías largas Sensores, óptica no lineal

Conexión con el Módulo 04

Todo lo que vimos en el Módulo 04 aplica exactamente igual aquí. El número V de una guía strip SOI a 1550 nm es V(π×0.22/1.55)×3.161.41V \approx (\pi \times 0.22 / 1.55) \times 3.16 \approx 1.41, justo debajo de π/21.57\pi/2 \approx 1.57 → monomodo. El neffn_{\text{eff}} está entre 1.45 y 3.48 como exige la condición de guiado. El campo evanescente penetra solo ~50–100 nm (vs ~1 μm en fibra) — por eso se puede curvar a radios de micras.

Ejercicios

Ejercicio 1

Aplica el método del índice efectivo a una guía strip SOI de 450 × 220 nm a 1550 nm. Paso 1: calcula neff(y)n_{\text{eff}}^{(y)} para el slab de 220 nm (usa nSi=3.48n_{\text{Si}} = 3.48, nSiO2=1.45n_{\text{SiO}_2} = 1.45). Paso 2: calcula neffn_{\text{eff}} del modo cuasi-TE con el slab equivalente de ancho 450 nm — cuidado con qué polarización toca en cada paso. ¿Es monomodo?

Solución

Paso 1: slab vertical de 220 nm, TE (E\mathbf{E} tangencial a las caras). Vy=(π×0.22/1.55)×3.4821.452=0.446×3.164=1.411V_y = (\pi \times 0.22 / 1.55) \times \sqrt{3.48^2 - 1.45^2} = 0.446 \times 3.164 = 1.411, por debajo de π/2=1.571\pi/2 = 1.571: monomodo en vertical. Resolviendo la trascendente, neff(y)=2.852n_{\text{eff}}^{(y)} = 2.852.

Paso 2: slab horizontal de 450 nm con nnuˊcleo=2.852n_{\text{núcleo}} = 2.852 y nclad=1.45n_{\text{clad}} = 1.45, ahora en TM. El resultado es neff=2.423n_{\text{eff}} = 2.423 (con TE en los dos pasos saldría 2.599, y estaría mal).

Y ahora lo que de verdad pregunta el enunciado. Vx=(π×0.45/1.55)×2.85221.452=0.912×2.456=2.240V_x = (\pi \times 0.45 / 1.55) \times \sqrt{2.852^2 - 1.45^2} = 0.912 \times 2.456 = 2.240, que es mayor que π/2\pi/2. Los cortes de un slab simétrico están en V=mπ/2V = m\pi/2 y no dependen de la polarización (en el corte γ=0\gamma = 0 y el factor WW multiplica a cero), así que este modelo dice que el segundo modo lateral existe ya desde w=λ/(2NA)=316w = \lambda/(2\,\text{NA}) = 316 nm. A 450 nm su índice es 1.520, contra los 1.45 del revestimiento: existe, pero agarrado con alfileres.

Ojo: esos 316 nm son del método, no de la guía. El método del índice efectivo sobreestima el confinamiento en alto contraste — acabamos de verlo con el fundamental, 2.497 frente a los 2.43–2.45 de un cálculo vectorial — y por eso adelanta el corte. Un cálculo vectorial lo lleva a los 500–550 nm que citan los PDK, y ésa es la razón por la que la anchura estándar es 450–500 nm y no 300. Las dos frases no son la misma cuenta y no se pueden dar por buenas a la vez: la primera es lo que dice este modelo, la segunda es lo que dice la simulación completa.

La respuesta práctica, además, no depende de cuál de los dos aciertes: el TE₁ es impar respecto al eje de la guía, así que una entrada centrada y simétrica no lo excita, y con neff=1.52n_{\text{eff}} = 1.52 se marcha en la primera curva. «Monomodo» en fotónica integrada quiere decir monomodo en la práctica: que el segundo modo no se excite y no sobreviva.

Ejercicio 2

En una guía slot con dos strips de silicio de 220 × 220 nm separados por una ranura de 100 nm rellena de SiO₂, estima la amplificación del campo en la ranura respecto al silicio para la componente ExE_x (perpendicular a las interfaces verticales). Si en lugar de SiO₂ rellenas con agua (n=1.33n = 1.33), ¿cómo cambia?

Solución

Con SiO₂: Eslot/ESi=εSi/εslot=nSi2/nSiO22=3.482/1.4525.8E_{\text{slot}}/E_{\text{Si}} = \varepsilon_{\text{Si}}/\varepsilon_{\text{slot}} = n_{\text{Si}}^2/n_{\text{SiO}_2}^2 = 3.48^2/1.45^2 \approx 5.8.

Con agua: 3.482/1.332=12.11/1.776.83.48^2 / 1.33^2 = 12.11/1.77 \approx 6.8. Mayor amplificación porque el contraste de índice es mayor. Es por esto que la guía slot es tan atractiva para sensores biológicos en medio acuoso — el campo interactúa con el analito con intensidad amplificada.

Ejercicio 3

Una guía strip SOI tiene pérdidas de 2 dB/cm y una guía rib del mismo chip tiene 0.5 dB/cm. Un circuito incluye una espiral de retardo de 2 cm de largo. ¿Cuánta potencia se pierde en cada caso? Si la pérdida máxima aceptable es 3 dB (50% de la potencia), ¿cuál es la longitud máxima en cada geometría?

Solución

Strip (2 cm): peˊrdida=2×2=4\text{pérdida} = 2 \times 2 = 4 dB. Transmisión: 104/10=0.4010^{-4/10} = 0.40 → se pierde el 60%.

Rib (2 cm): peˊrdida=0.5×2=1\text{pérdida} = 0.5 \times 2 = 1 dB. Transmisión: 101/10=0.7910^{-1/10} = 0.79 → se pierde el 21%.

Longitud máxima a 3 dB: strip = 3/2 = 1.5 cm; rib = 3/0.5 = 6 cm. Las espirales de retardo largas (giroscopios, buffers) se fabrican en rib o en Si₃N₄ (pérdidas < 0.1 dB/cm).